I. 제품 개요
1-1 개요
1.이 제품은 디지털 회로와 아날로그 회로 훈련 시스템을 통합하여 아날로그 회로 관련 테스트 및 디지털 회로 테스트를 수행 할 수 있습니다.
2. 본 제품은 조정 된 전원 공급 장치, AC 저전압 전류, 주파수 발생기, 부저, 멀티 소켓, 전압 조정기 등으로 설계되어 전자 제품의 측정, 디버깅 및 신제품 개발을위한 풍부한 자원을 제공합니다.
1-2 기능
1. 장비는 특수 플러그를 채택하여 학생들이 시험을 완료하기 위해 실험 회로를 신속하게 설정하는 데 편리합니다.
2, 다양한 전자 부품 및 조립 도구를 사용하여 학생들의 조립 및 디버깅 기능을 실행할 수있을뿐만 아니라 학생의 커리큘럼 설계, 졸업 설계, 기술 경쟁 및 기타 보조 개발 기능을 실행할 수 있습니다. II. 기술적 인 매개 변수
(1) 입력 전원 : 3 상 5 선식 시스템 380V ± 10 % 60Hz
(2) 치수 : 1300mm × 650mm × 1500mm
(3) 기계 용량 : <2KVA
(4) 무게 : <250kg
(5) 작업 조건 : 주변 온도 -10 ° C ~ + 40 ° C 상대 습도 <85 % (25 ° C)
1, 아날로그 회로 테스트 부분
2, 아날로그 회로 전원 공급 장치
3. 디지털 회로 실험
4, 디지털 회로 전원 공급 장치 III. 완료 할 수있는 실험
디지털 회로 섹션
실험 1 트랜지스터 스위칭 특성, 리미터 및 클램프
실험 2 TTL 통합 로직 게이트의 로직 기능 및 파라미터 테스트
실험 3 CMOS 통합 로직 게이트의 로직 기능 및 파라미터 테스트
실험 4 : 집적 논리 회로의 연결 및 구동
실험 5 결합 된 논리 회로의 설계 및 테스트
실험 6 디코더와 그 응용
실험 7 : 데이터 선택기와 그 응용
실험 8 트리거와 그 응용
실험 9 카운터 및 그 응용
실험 10 시프트 레지스터와 그 응용
실험 11 펄스 분배기 및 그 응용
실험 12 게이트 회로를 사용하여 펄스 신호 생성
실험 13 단 안정 트리거 및 슈미트 트리거-펄스 지연 및 파형 형성 회로
실험 14555 시간축 회로와 그 응용
실험 15 D / A. A / D 변환기
실험 16 지적 경쟁을위한 응답 장치
실험 17 전자 스톱워치
실험 18 3 자리 DC 디지털 전압계
실험 19 디지털 주파수 측정기
아날로그 회로부
실험 1 일반적인 전자 기기 사용
실험 2 간단한 다이오드 테스트
실험 3 트랜지스터의 입출력 특성 실험
실험 4 단단 증폭기 회로
실험 5 2 단 증폭기 회로
실험 6 부정적인 피드백 증폭기 회로
실험 7 이미 터 추종자
실험 8 차동 증폭기 회로
실험 9 FET 증폭기
실험 10 RC 사인파 발진 회로
실험 11 LC 발진기 및 주파수 선택 증폭기
실험 12 통합 연산 증폭기의 기본 매개 변수 테스트
실험 13 : 통합 연산 증폭기 비율 합산 회로
실험 14 : 통합 연산 증폭기의 통합 및 차동 회로
실험 15 : 연산 증폭기가 통합 된 전압 비교기 회로
실험 16 파형 발생기
실험 17 능동 필터
실험 18 통합 전력 증폭기
실험 19 상보 대칭 전력 증폭기
실험 20 통합 전압 조정기
실험 21 시리즈 전압 조정기 회로
실험 22 사이리스터 제어 가능 정류기 회로
